2021年1月：究極のローコスト性を備えたCADデータ比較測長アナライズシステム「びっくりVISION」をリリース 2021年1月：「第35回エレクトロテストジャパン」に出展 2020年10月：測長＆AOI兼用装置ST/LSTシリーズのベンチマークテスト対応状況を明示 2020年10月：10秒でAOI処理可能な「ワンショット検査装置」をリリース 2020年9月：700×800㎜基板対応のハイエンド測長＆AOI兼用装置を開発 2020年1月：測長・検査総合システム「ステラアナライザーⅡシリーズ」を開発 2019年6月：AI機能搭載スクリーンマスク用AOI装置を開発 2019年6月：「JPCA Show 2018」に出展 2019年1月：「第36回エレクトロテストジャパン」に出展 2018年6月：「JPCA Show 2018」に出展 2018年5月：検査速度を高速化し量産にも対応可能なAOI装置をリリース 2017年6月：「JPCA Show 2017」に出展 2015年6月：「JPCA Show 2015」に出展 2013年1月：ローコスト版検査装置「LST-600」をリリース 2010年10月：測長＆外観検査兼用装置の検査速度を大幅に向上 2009年3月：検査時間を大幅に短縮できる目視アシスト検査装置を受注 2009年3月：半導体プローバー用のピンジク測長＆ピン形状検査装置を開発
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