ステラ・コーポレーションは、外観自動検査速度を高速化した測長＆外観自動検査(AOI)兼用装置「LST6050AOI-Twin」をリリースしました。ツインテーブルを採用することにより検査時間を高速化し、PCBなどの量産ラインにも適用できるようにしました。 LST6050AOI-Twinはスループットを高めるためツインテーブルを採用。検査員1人で検査とベリファイを効率よく作業できます。部品面からはんだ面と基板の両面検査も可能です。 また、モノクロのラインスキャンカメラに代わってカラーエリアカメラを搭載。変色や濃淡などの分類もできるほか、銅箔面はトップとボトムの分類も可能です。さらに、基板の反りの影響も軽減できます。 検査アルゴリズムは従来からのCAD LINK完全比較方式を採用。このため、複雑な形状でも問題なく検査できます。 さらに、PCBのエッチング前後はもちろん、穴開け後や開口部検査も可能など検査対象も多彩となっています。
検査分解能は8μm、4μm、2μmの三つで、いうまでもなくパターンのオープン・ショート欠陥、ピンホール欠陥、突起欠陥などが自動で検出可能。もちろんAOIだけでなく、自動測長も可能となっています。 です。
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