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Scan & Check


スキャン&チェックコマンドはデータの「相違個所」を「瞬時」に検出します。

例えば、元データと輪郭データを比較して検査する際、目視での検査は多くの時間や手間が必要になります。 そのような時、スキャン&チェックコマンドを使用すると、簡単な操作で、しかも短時間 (縦横2ミリのデータを精度1μmで実行した場合15秒程度で完了します) で正確な検査を行うことができます。指定した領域を自動で検査する巡回検査機能を搭載しています。

非常にシンプルなインターフェースを持っているため、作業者に難しい教育を施す必要はありませんし、 一度コマンドを走らせれば少しの間待つだけですので、作業者の疲労による仕事の効率の変動などの影響は一切受けません。

簡単な操作で、高品質のチェックを短時間でこなすことができるのです。

レイヤー間自動相違チェック 対象となるデータです。
扱うデータ、ケースによりチェックする範囲やチェック精度の設定を行なうことができます。
レイヤー間自動相違チェック マークがついている個所が指定したデータ同士での相違個所です。
相違個所が発見された場合、このようなマークがつきますので確認します。
このデータは"e"の内側の個所が異なっていました。
データ編集段階で編集コマンドに誤ったパラメータを入力し、 ほんのわずかに結果が異なったものなどもチェックすることができます。
ドットサイズ(検査精度)の違いによる影響
ドットサイズを高くしたケース
こちらは 「速度重視」 です。
検査を素早く完了できます。
レイヤー間自動相違チェック
ドットサイズを低くしたケース(上のデータと同じものを利用し、同じ範囲を検査しています)

こちらは 「精度優先」 です。
精度を低めた時よりも時間はかかりますが、精度を高めなければ発見できない相違が発見できます。
レイヤー間自動相違チェック