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Stellaオリジナル ローコスト版測長・検査装置 LSTシリーズ
測長＆外観検査兼用装置「STシリーズ」の機能を元に、新しい構造設計により低価格を実現
現場のニーズに合わせたカスタマイズ可能なローコスト版検査装置が誕生
特徴
①機能拡張、カスタマイズ性
STシリーズの構造を継承しつつ、長年培ってきた独自の要素技術を導入。作業現場のニーズに柔軟に対応可能です。
| 測定エリア |
500×600㎜ |
| 最小位置決め |
0.5μm |
| 倍率 |
×100、×400選択 |
| 速度 |
150㎜/sec |
| 線幅測定精度 |
1μm(×400時) |
カスタマイズ、機能拡張を行うことにより、現場のニーズに沿った検査装置が提供可能です。
例えばデータ補正によるファインパターン対応時に、その補正値を検出する装置として使用できます。
また、目視アシスト機能として記録をとりながら検査可能です。
もちろん、複数台を同期して操作することもできます。
②コンパクトで軽量、場所を選ばない検査装置
コンパクトで軽量なLSTシリーズは場所を問わず設置できます。
用途によってデスクトップでも使用可能です。
また、静音設計ですので、騒音のために設置場所が制約されることはありません。
高速AOI対応装置LST-AOI-Twin
LST6050AOI-Twinは、外観自動検査速度を高速化した測長＆外観自動検査(AOI)です。ツインテーブルを採用することにより検査時間を高速化し、PCBなどの量産ラインにも適用できるようにしました。
LST6050AOI-Twinはスループットを高めるためツインテーブルを採用。検査員1人で検査とベリファイを効率よく作業できます。部品面からはんだ面と基板の両面検査も可能です。
また、モノクロのラインスキャンカメラに代わってカラーエリアカメラを搭載。変色や濃淡などの分類もできるほか、銅箔面はトップとボトムの分類も可能です。さらに、基板の反りの影響も軽減できます。
検査アルゴリズムは従来からのCAD LINK完全比較方式を採用。このため、複雑な形状でも問題なく検査できます。
さらに、PCBのエッチング前後はもちろん、穴開け後や開口部検査も可能など検査対象も多彩となっています。
検査分解能は8μm、4μm、2μmの三つで、いうまでもなくパターンのオープン・ショート欠陥、ピンホール欠陥、突起欠陥などが自動で検出可能。もちろんAOIだけでなく、自動測長も可能となっています。
㈱ステラ・コーポレーション
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