会社概要 製品情報 サポート/ダウンロード お問い合わせ Stella オリジナルCADデータ比較測長アナライズシステム STシリーズ -統計的プロセス管理(歩留まり向上・特殊品製造)支援システム-   わずか10秒でAOI処理可能な「ワンショット検査装置」をリリース 測定物仕様 測長可能範囲 420×320mm  最大測定物サイズ 420×320mm  ステージ仕様 テーブルサイズ 550×470mm 駆動方式 エアーアクチュエータ  繰り返し測定精度 ±1画素以下 測定精度 ±1画素以下 観察仕様(エリアカメラ) カメラ  5000万画素カメラ(8688×5792） レンズ 固定レンズ  照明 落射照明、エッジ照明  視野範囲 画素25μmモード:434×289mm ※元画素50μm 画素20μmモード:347×230mm ※元画素 40μm ソフトウェア仕様 最小表示単位 初期設定1μm 注）ソフトウエアの設定で変更可能 測定機能 距離 ティーチング機能 オフライン ※弊社Stella Visionがインストールされた別PCでデータ作成可能 ※測定ポイントはコピー、回転、面付けが可能 読み込み可能データフォーマット ガーバー(274D、274X)、DXF、DWG、NC等 測定結果出力 CSV形式テキストファイル ユーティリティー  本体寸法 840(W)×1302(D)×1892mm(H) 重量 約330kg 電源 単相 100V＋接地 本体：0.5kVA、周辺機器(PC)：0kVA接地アース  PC仕様  OS Windows10 Professional 64bit CPU IntelまたはAMD メモリー 32GB以上 ハードディスク容量 1TB以上 　ステラ・コーポレーションは各種パターンを1回で撮像し超高速で外観自動検査(AOI)ができる「ワンショット検査装置」を開発、2020年に1号機を出荷しました。 　ワンショット検査装置は5000万画素のCCDエリアカラーカメラにより、基板上の各種パターンや印刷文字などを1ショットで撮像。独自の画像処理技術より、320×420�o基板でロード/アンロード含めわずか10秒という超高速処理を実現した。これらには独自のディストーション補正技術、超解像力技術、CADデータ比較検査アルゴリズムを盛り込んで得られた。 　標準的な検出分解能は20μmで、オプション設定によりパターンの自動測長も可能。また、サブストレートとしてはガラス基板のほか、メタルプレートやセラミックスプレートにも対応できる。

�潟Xテラ・コーポレーション
〒273-0024 千葉県船橋市海神町南1-1544-7
Tel: 047-432-5031 Fax: 047-432-5032
e-Mail support@stellacorp.co.jp
ホームページ https://www.stellacorp.co.jp