機能：パターンの測長(X、Y、Z方向) 主要用途：PCB、FPC、MEMS、ディスプレイ、リードフレーム等のパターン寸法測長および合否判定 対象膜：Cu、Cr、Al、Ag、Ni等
特徴 CADデータに線幅、穴径、距離、角度、円弧などの測長ポイントを設定し、測長データを作成。この測長データを元に測長します。XY寸法測長はもちろんのこと、Z(高さ･厚み等)も測長できます。その他、角度、円弧、図形認識による中心点やコーナーも測長可能です。線幅、2点間または3点間、多点、直径、円弧、角度といった基本的な測定に対応。位置決め機能との併用により、様々な箇所が測定できます。 さらに、測定結果と設計値を比較でき、許容値(±値)を設定すれば合否判定も可能です。
測長検査コマンド 様々な測定方式 線幅、2または3点間、多点、直径、円弧、角度といった基本的な測定に対応しています。 位置決め機能との併用により、様々な箇所が測定できます。
多彩な位置機能 測定点への移動を補助する各種の座標位置決め機能があります。
▲測長結果例
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