「CAM自動化+α=?」 「検査+α=?」「測長+α=?」 答えは当社ブースに! 2019年1月16〜18日、東京ビッグサイトで開催される「第36回エレクトロテストジャパン」に出展(小間番号E18-16)します。主な展示プロダクトは以下の通りです。 ■Stella Vision for JAVA:次の3つのソフトウェアの総称です。 Fine Vision for JAVA:各種デバイス、マスク等向けの汎用ソフトウェア Router Vision for JAVA:ルーター加工機 Zig Vision for JAVA:PCBの冶具
■プリント基板用LST AOIシステム CADデータ比較方式のプリント基板用AOIです。ローコスト・省スペースで、カラーCCDカメラの採用により多彩な製品に対応します。スループット高速化のためベリファイも用意しています。 ■スクリーンマスク用ST AOIシステム ステラ独自のアルゴリズムによるスクリーンマスク用AOIです。スクリーンメッシュに絡みついた異物や乳剤残り、細線開口部にスクリーンメッシュで完全にふさがれた箇所、乳剤上にある微細ピンホールを検出します。 ■ファインパターン用ST AOIシステム ガラスマスク、フィルムマスクはもちろん、特殊なパターン(L&S=2μm)などのファインパターンの外観検査が可能です。 ■エッチング補正シミュレータシステム CADデータ化したウェットエッチング基板をCAM製造データと繰り返し比較・自動補正することにより最適パラメータを習得します。ウェットエッチング結果を完璧に再現し、自動逆補正を支援するシステムです。
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